Dhyana XV4040BSI以背照式sCMOS核心技术重构软X射线（腔内）成像体验，凭借超大靶面、超高的峰值量子效率及多维度性能突破，成为科研与工业检测领域的硬核之选。
Dhyana XV4040BSI以背照式sCMOS核心技术重构软X射线（腔内）成像体验，凭借超大靶面、超高的峰值量子效率及多维度性能突破，成为科研与工业检测领域的硬核之选。
主要性能：
· ～100% QE @ 80-1000 eV
· 10⁻6 Pa 真空兼容度
· 39 ke- 满阱容量
· 16.5 fps @ CameraLink
· USB 3.0
典型应用：
· 软x射线散射/光谱
· 极紫外光谱
· 叠层衍射成像
· 高次谐波辐射
量子效率曲线：
技术参数：
Dhyana XV4040BSI以背照式sCMOS核心技术重构软X射线（腔内）成像体验，凭借超大靶面、超高的峰值量子效率及多维度性能突破，成为科研与工业检测领域的硬核之选。
主要性能：
· ～100% QE @ 80-1000 eV
· 10⁻6 Pa 真空兼容度
· 39 ke- 满阱容量
· 16.5 fps @ CameraLink
· USB 3.0
典型应用：
· 软x射线散射/光谱
· 极紫外光谱
· 叠层衍射成像
· 高次谐波辐射
量子效率曲线：
技术参数：
